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日本電測(cè)densoku多點(diǎn)同時(shí)測(cè)??量渦流膜厚儀技術(shù)
本體1臺(tái)で多點(diǎn)を同時(shí)に測(cè)定します。
?多點(diǎn)を同時(shí)に測(cè)定
?測(cè)定時(shí)間 3秒
?50～100點(diǎn)の同時(shí)測(cè)定が可能
多點(diǎn)同時(shí)測(cè)定渦電流式膜厚計(jì)
多點(diǎn)を同時(shí)に測(cè)定。
※畫像クリックで動(dòng)畫が流れます。音
一個(gè)主機(jī)可以同時(shí)測(cè)量多個(gè)點(diǎn)。
?同時(shí)測(cè)量多個(gè)點(diǎn)
?測(cè)量時(shí)間3秒
?可以同時(shí)測(cè)量50至100點(diǎn)
多點(diǎn)同時(shí)測(cè)??量渦流式膜厚計(jì)
同時(shí)測(cè)量多個(gè)點(diǎn)。
