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儀器檢查:
外觀檢查,查看儀器外殼是否有破損、刮擦,顯示屏是否完好,按鍵是否靈敏。比如超聲波測(cè)厚儀,若外殼破損可能影響其密封性,在一些惡劣環(huán)境下使用時(shí)可能導(dǎo)致內(nèi)部元件受損38。
檢查連接部件,確保探頭與主機(jī)連接緊密,對(duì)于有外接電源的儀器,檢查電源線連接是否穩(wěn)固。如在工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)使用的 X 射線測(cè)厚儀,若探頭連接松動(dòng),可能導(dǎo)致信號(hào)傳輸不穩(wěn)定,影響測(cè)量精度6。
環(huán)境評(píng)估:
溫度和濕度方面,不同類型測(cè)厚儀對(duì)環(huán)境溫濕度要求不同。例如,電子類測(cè)厚儀一般適宜在 - 10℃到 50℃,相對(duì)濕度不大于 80% 的環(huán)境下工作。濕度過高可能造成電子元件受潮損壞,溫度過高或過低可能影響儀器內(nèi)部電路性能和探頭的工作特性6。
電磁干擾方面,要遠(yuǎn)離大型電機(jī)、變壓器等強(qiáng)電磁干擾源。因?yàn)閺?qiáng)電磁干擾可能會(huì)使測(cè)厚儀的測(cè)量數(shù)據(jù)出現(xiàn)波動(dòng)或偏差,像在鋼鐵廠等有大型電氣設(shè)備運(yùn)行的場(chǎng)所使用測(cè)厚儀時(shí),需特別注意電磁干擾問題。
粉塵和腐蝕性氣體方面,若在有較多粉塵或腐蝕性氣體的環(huán)境中使用,需采取防護(hù)措施。比如在化工企業(yè)使用測(cè)厚儀檢測(cè)管道壁厚時(shí),若環(huán)境中有腐蝕性氣體,可能會(huì)腐蝕儀器外殼和內(nèi)部元件,此時(shí)可使用防護(hù)箱對(duì)儀器進(jìn)行防護(hù)3。
電源供應(yīng):
若使用電池供電,檢查電池電量是否充足。對(duì)于可充電電池,需定期進(jìn)行充電維護(hù),以保證電池的使用壽命和性能。例如一些便攜式超聲波測(cè)厚儀,通常采用鋰電池供電,長(zhǎng)期不使用時(shí)應(yīng)每隔一段時(shí)間對(duì)電池進(jìn)行充放電操作。
使用外接電源時(shí),確保電源電壓與儀器要求相符,并使用穩(wěn)壓電源,防止因電源電壓波動(dòng)對(duì)儀器造成損害。如在一些電力供應(yīng)不穩(wěn)定的地區(qū),使用測(cè)厚儀時(shí)配備穩(wěn)壓電源十分必要6。
選擇校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)件:根據(jù)測(cè)厚儀的測(cè)量范圍和精度要求,選擇合適的標(biāo)準(zhǔn)厚度樣塊。標(biāo)準(zhǔn)樣塊的厚度應(yīng)具有高精度和可溯源性,其材質(zhì)最好與被測(cè)物體材質(zhì)相近。例如,測(cè)量金屬板材厚度的磁性測(cè)厚儀,應(yīng)選擇同材質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)金屬樣塊進(jìn)行校準(zhǔn)7。
校準(zhǔn)流程:
開機(jī)預(yù)熱,大多數(shù)測(cè)厚儀開機(jī)后需預(yù)熱一段時(shí)間,使儀器達(dá)到穩(wěn)定的工作狀態(tài),預(yù)熱時(shí)間一般在 5 - 15 分鐘不等。例如 X 射線測(cè)厚儀,開機(jī)后需要預(yù)熱以使 X 射線管達(dá)到穩(wěn)定的發(fā)射狀態(tài),保證測(cè)量精度6。
進(jìn)入校準(zhǔn)模式,通過儀器按鍵或菜單操作進(jìn)入校準(zhǔn)功能界面。不同型號(hào)測(cè)厚儀進(jìn)入校準(zhǔn)模式的方式可能不同,需參照儀器操作手冊(cè)進(jìn)行操作。
測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)件,將探頭垂直放置在標(biāo)準(zhǔn)樣塊表面,施加適當(dāng)且均勻的壓力(對(duì)于接觸式測(cè)厚儀),確保探頭與樣塊充分接觸。然后讀取儀器顯示的測(cè)量值。
校準(zhǔn)調(diào)整,將測(cè)量值與標(biāo)準(zhǔn)樣塊的實(shí)際厚度值進(jìn)行對(duì)比。若存在偏差,根據(jù)儀器的校準(zhǔn)功能提示,調(diào)整校準(zhǔn)系數(shù)或進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)、跨度校準(zhǔn)等操作,直至測(cè)量值與標(biāo)準(zhǔn)樣塊實(shí)際厚度值相符。例如超聲波測(cè)厚儀,在校準(zhǔn)過程中可能需要調(diào)整聲速等參數(shù),以保證測(cè)量的準(zhǔn)確性8。
被測(cè)物體表面處理:
清潔表面,去除被測(cè)物體表面的油污、灰塵、鐵銹等雜質(zhì)。這些雜質(zhì)可能會(huì)影響探頭與被測(cè)物體的接觸,導(dǎo)致測(cè)量誤差。例如在測(cè)量金屬管道壁厚時(shí),若管道表面有鐵銹,可能會(huì)使超聲波在傳播過程中產(chǎn)生散射和衰減,影響測(cè)量精度3。
打磨光滑(如需),對(duì)于表面粗糙的被測(cè)物體,可能需要進(jìn)行打磨處理,使表面平整光滑,以確保探頭與被測(cè)物體表面良好接觸。但打磨時(shí)需注意不要過度打磨,以免影響被測(cè)物體的實(shí)際厚度。
測(cè)量點(diǎn)選擇:
根據(jù)被測(cè)物體的形狀、尺寸和測(cè)量要求,合理選擇測(cè)量點(diǎn)。對(duì)于大面積的板材,應(yīng)在不同位置選取多個(gè)測(cè)量點(diǎn),以獲取更全面的厚度信息,避免因板材厚度不均勻?qū)е聹y(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確。例如在測(cè)量鋼板厚度時(shí),可在鋼板的四個(gè)角及中心位置進(jìn)行測(cè)量。
對(duì)于有特殊要求的部位,如管道的焊縫處、設(shè)備的拐角處等,應(yīng)重點(diǎn)測(cè)量。這些部位由于加工工藝或受力情況不同,厚度可能與其他部位存在差異3。
測(cè)量操作:
接觸式測(cè)厚儀:將探頭垂直放置在選定的測(cè)量點(diǎn)上,施加適當(dāng)壓力,保持探頭穩(wěn)定。對(duì)于一些需要耦合劑的測(cè)厚儀,如超聲波測(cè)厚儀,需在探頭與被測(cè)物體表面之間涂抹適量耦合劑,以保證超聲波的良好傳播8。
非接觸式測(cè)厚儀:調(diào)整儀器與被測(cè)物體的距離和角度,使測(cè)量光束或信號(hào)準(zhǔn)確照射或發(fā)射到被測(cè)物體的測(cè)量部位。例如 X 射線測(cè)厚儀,需確保 X 射線垂直穿過被測(cè)物體,以獲得準(zhǔn)確的厚度測(cè)量值6。讀取儀器顯示的測(cè)量數(shù)據(jù),并做好記錄。若測(cè)量數(shù)據(jù)波動(dòng)較大,可多次測(cè)量取平均值,以提高測(cè)量的準(zhǔn)確性。
數(shù)據(jù)記錄:及時(shí)將測(cè)量數(shù)據(jù)記錄在專門的記錄表格或使用儀器自帶的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能進(jìn)行存儲(chǔ)。記錄內(nèi)容應(yīng)包括測(cè)量時(shí)間、測(cè)量點(diǎn)位置、測(cè)量值等詳細(xì)信息。例如在對(duì)管道進(jìn)行定期厚度檢測(cè)時(shí),詳細(xì)記錄每次測(cè)量的時(shí)間和位置,便于后續(xù)對(duì)管道腐蝕情況進(jìn)行分析3。
數(shù)據(jù)處理:
計(jì)算平均值,對(duì)于多次測(cè)量的數(shù)據(jù),計(jì)算其平均值,以減小測(cè)量誤差。例如在測(cè)量板材厚度時(shí),若在同一位置測(cè)量了 5 次,將這 5 次測(cè)量值相加后除以 5 得到平均值。
分析數(shù)據(jù)變化趨勢(shì),將本次測(cè)量數(shù)據(jù)與之前的測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比,分析被測(cè)物體厚度的變化趨勢(shì)。若發(fā)現(xiàn)厚度變化異常,如管道壁厚出現(xiàn)明顯減薄,需進(jìn)一步分析原因,判斷是否存在腐蝕、磨損等問題3。
儀器清潔:使用干凈的軟布擦拭儀器外殼和探頭,去除表面的污漬和耦合劑殘留(對(duì)于使用耦合劑的測(cè)厚儀)。對(duì)于接觸腐蝕性物質(zhì)的儀器,需用適當(dāng)?shù)那鍧崉┻M(jìn)行清洗,但要注意避免清潔劑進(jìn)入儀器內(nèi)部。
探頭存放:將探頭取下(若可拆卸),妥善存放。探頭是測(cè)厚儀的關(guān)鍵部件,應(yīng)避免碰撞和擠壓,防止損壞。例如超聲波探頭,其內(nèi)部的壓電晶體較為脆弱,需小心存放8。
儀器存儲(chǔ):將儀器存放在干燥、通風(fēng)良好的地方,避免陽光直射。對(duì)于長(zhǎng)期不使用的儀器,應(yīng)定期開機(jī)通電,防止電子元件受潮損壞。同時(shí),要將儀器放置在安全的位置,防止意外跌落造成損壞。