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日本santec可變波長光學(xué)元件掃描測試系統(tǒng)

日本santec可變波長光學(xué)元件掃描測試系統(tǒng)

產(chǎn)品型號(hào):

所屬分類:光源

產(chǎn)品時(shí)間:2024-09-07

簡要描述:日本santec可變波長光學(xué)元件掃描測試系統(tǒng)
通過結(jié)合可變波長光源(TSL系列),功率計(jì)(MPM),偏振控制單元(PCU-100)和定制軟件,在研發(fā)和生產(chǎn)線上對(duì)IL / WDL / PDL進(jìn)行有效的測量和評(píng)估你能行的。

詳細(xì)說明:

日本santec可變波長光學(xué)元件掃描測試系統(tǒng)

 

掃頻測試系統(tǒng)

通過結(jié)合可變波長光源(TSL系列),功率計(jì)(MPM),偏振控制單元(PCU-100)和定制軟件,在研發(fā)和生產(chǎn)線上對(duì)IL / WDL / PDL進(jìn)行有效的測量和評(píng)估你能行的。

多站測量

通過將掃頻測試系統(tǒng)與多分支單元相結(jié)合,可以進(jìn)一步提高檢查和評(píng)估的效率。

總覽

掃頻測試系統(tǒng)結(jié)合了可變波長光源(TSL系列),多端口功率計(jì)(MPM系列),偏振控制單元(PCU-100)和軟件,是光學(xué)設(shè)備和生產(chǎn)現(xiàn)場研發(fā)的理想選擇。這是一個(gè)評(píng)估工具。通過實(shí)時(shí)參考可變波長光源的輸出功率同時(shí)獲取通過DUT傳輸?shù)墓夤β?,可以高精度地測量IL / WDL / PDL。該系統(tǒng)使用穆勒矩陣方法來計(jì)算PDL。

特性

  • 實(shí)時(shí)電源參考
  • 高精度的IL / WDL / PDL特性測量-
    高IL重現(xiàn)性<±0.02
    dB-高PDL重現(xiàn)性±0.01 dB
  • 縮放算法-
    具有高波長分辨率和波長精度
    的測量-減少測量時(shí)間
  • 可以進(jìn)行多通道測量
  • 圖形用戶界面和DLL支持(Visual Studio)-
    易于設(shè)置測量參數(shù)-
    數(shù)據(jù)分析

WDL(與波長有關(guān)的損耗)測量

80 dB或更高的高動(dòng)態(tài)范圍測量

我們的可變波長光源TSL系列配備了具有創(chuàng)新設(shè)計(jì)的諧振器,可減少ASE光學(xué)噪聲,同時(shí)實(shí)現(xiàn)很高的信噪比和很高的光學(xué)輸出功率。因此,該系統(tǒng)可以同時(shí)評(píng)估具有高動(dòng)態(tài)范圍特性的光學(xué)組件的多個(gè)端口的特性。
下圖分別顯示了CWDM濾波器和陷波濾波器(例如FBG)的測量數(shù)據(jù)。

波長精度高+/- 3 pm

由于TSL系列標(biāo)配了波長監(jiān)視器,因此可以高精度地測量光學(xué)組件。
下圖顯示了乙炔(12C2H2)氣體吸收線的測量波長,可以看出以*的測量精度可以進(jìn)行測量。

波長分辨率低于0.1 pm

該系統(tǒng)不僅可以用于WDM的光學(xué)組件,而且可以用于窄線寬濾光片,以高波長分辨率測量WDL和PDL。
該圖是超高Q容量設(shè)備的測量結(jié)果,您可以看到它可以以0.1 pm或更小的分辨率進(jìn)行測量。

運(yùn)用

  • 光學(xué)組件,模塊評(píng)估-
    波長選擇開關(guān)(WSS),AWG,波長阻擋器-
    波長可變?yōu)V波器,交織器,F(xiàn)BG,耦合器,隔離器,光學(xué)開關(guān)
    -DWDM組件
  • 光子器件/微腔諧振器評(píng)估
  • 光譜測量

配置示例

1. PDL(極化相關(guān)損耗)測量

    • 可變波長光源TSL-710 / TSL-550
    • 偏光控制器PCU-100
    • 光功率計(jì)MPM-210


2. WDL(波長相關(guān)損耗)測量 ??

  • 可變波長光源TSL-710 / TSL-550
  • 光功率計(jì)MPM-210

3. WDL(波長相關(guān)損耗)測量(其他公司的功率計(jì))

  • 可變波長光源TSL-710 / TSL-550
  • 掃頻處理單元SPU-100
  • 光功率計(jì)(需要記錄功能)
    示例)Keysight 816 x A / B,774 x A功率計(jì)
    光電探測器+ DAQ

日本santec可變波長光學(xué)元件掃描測試系統(tǒng)

多站點(diǎn)檢測

在多站測量系統(tǒng)中,可變波長光源,偏振控制器和多分支單元用作服務(wù)器,并且光和觸發(fā)信號(hào)從它們分支并發(fā)送到每個(gè)站。每個(gè)站僅包含一個(gè)功率計(jì)和一臺(tái)PC。

在測量期間,服務(wù)器的可變波長光源連續(xù)掃描預(yù)定范圍。因此,每個(gè)站可以隨時(shí)獨(dú)立于其他站進(jìn)行測量。

這樣,該系統(tǒng)可以在保持高精度特性的同時(shí)進(jìn)一步提高檢查和評(píng)估的效率。

  • 可調(diào)諧激光器TSL-710 / TSL-550
  • 偏光控制器PCU-100
  • 多分支單位/ MBU-100
  • 光功率計(jì)MPM-210


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